Wipotec SC-V
Wipotec SC-V er udviklet til automatisk kvalitetskontrol af både produkt og emballage direkte i produktionslinjen. Systemet kombinerer X-Ray og optisk Vision-inspektion, så fremmedlegemer kan detekteres samtidig med, at blandt andet labels, stregkoder, datoer, produktinformation og emballagens visuelle kvalitet kontrolleres.
SC-V bygger på Wipotecs modulære SC-platform, der kan konfigureres med op til 600 W røntgeneffekt, scanningsbredder fra 200–600 mm og hastigheder på op til 120 m/min. Afhængigt af konfigurationen kan systemet anvende Diode Array fra 0,4 mm opløsning samt VioX fra 102 μm, hvilket giver mulighed for at tilpasse inspektionen til forskellige produkter og produktionslinjer.
Har du brug for hjælp?
Hvis du vil høre mere om vores løsninger, bedes du udfylde formularen, så kontakter vi dig hurtigst muligt.
Er du i en krisesituation og har brug for professionel inspektion af dine produkter?
Tekniske detaljer
Lignende produkter

Multicheck FE testpinde anvendes til kontrol og verificering af metaldetektorer og X-ray-systemer ved hjælp af testemner i jernholdigt metal (Ferrous). Testpindene er farvekodede og forsynet med et unikt serienummer, der sikrer sporbarhed til det medfølgende Multicheck-certifikat. FE testpinde fås i forskellige størrelser op til 20 mm.

SS316 testpinde anvendes til kontrol og verificering af metaldetektorer og X-ray-systemer ved hjælp af testemner i rustfrit stål (AISI 316). Testpindene er farvekodede og forsynet med et unikt serienummer, der sikrer sporbarhed til det medfølgende Multicheck-certifikat. SS316 testpinde fås i forskellige størrelser op til 20 mm.

Non-Ferrous testpinde anvendes til kontrol og verificering af metaldetektorer og X-ray-systemer ved hjælp af testemner i ikke-jernholdigt metal. Testpindene er farvekodede og forsynet med et unikt serienummer, der sikrer sporbarhed til det medfølgende Multicheck-certifikat. Non-Ferrous testpinde fås i forskellige størrelser op til 20 mm.


